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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Test and Diagnosis for Small-Delay Defects Mohammad Tehranipoor
Libristo-Code: 01424413
Verlag Springer-Verlag New York Inc., September 2011
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrat... Vollständige Beschreibung
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This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Autor Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2011
Anzahl der Seiten 212
EAN 9781441982964
ISBN 1441982965
Libristo-Code 01424413
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Gewicht 518
Abmessungen 155 x 235 x 17

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Industrielle Chemie und Fertigungstechnologien > Andere Fertigungsverfahren
EDV und Informationstechnologie > Computerhardware > Wartung und Reparaturen, IT
EDV und Informationstechnologie > Informatik > Systemanalyse und -design
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