DHL Abholort 4.69 Hermes Kurierdienst 4.99 DHL-Kurier 3.99 Hermes-Stelle 4.49 GLS-Kurierdienst 3.99

Nanometer Technology Designs

Sprache EnglischEnglisch
Buch Broschur
Buch Nanometer Technology Designs Nisar Ahmed
Libristo-Code: 01423022
Verlag Springer-Verlag New York Inc., Dezember 2011
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c... Vollständige Beschreibung
? points 349 b
139.20 inkl. MwSt.
Externes Lager in kleiner Menge Wir versenden in 13-16 Tagen

30 Tage für die Rückgabe der Ware


Das könnte Sie auch interessieren


Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Verschenken Sie dieses Buch noch heute
Es ist ganz einfach
1 Legen Sie das Buch in Ihren Warenkorb und wählen Sie den Versand als Geschenk 2 Wir schicken Ihnen umgehend einen Gutschein 3 Das Buch wird an die Adresse des beschenkten Empfängers geliefert

Anmeldung

Melden Sie sich bei Ihrem Konto an. Sie haben noch kein Libristo-Konto? Erstellen Sie es jetzt!

 
obligatorisch
obligatorisch

Sie haben kein Konto? Nutzen Sie die Vorteile eines Libristo-Kontos!

Mit einem Libristo-Konto haben Sie alles unter Kontrolle.

Erstellen Sie ein Libristo-Konto