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ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
Sprache
Englisch
Englisch
Buch
Broschur
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the to...
Libristo-Code: 19531712
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631 b
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The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
Informationen zum Buch
Vollständiger Name
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
Autor
ASM International
Sprache
Englisch
Englisch
Einband
Buch - Broschur
Datum der Veröffentlichung
2018
Anzahl der Seiten
660
EAN
9781627081504
ISBN
9781627081504
Libristo-Code
19531712
Verlag
A S M International
Abmessungen
152 x 229
