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CTL for Test Information of Digital ICs

Sprache EnglischEnglisch
Buch Broschur
Buch CTL for Test Information of Digital ICs Rohit Kapur
Libristo-Code: 02181748
Verlag Springer-Verlag New York Inc., April 2013
From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuab... Vollständige Beschreibung
? points 349 b
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From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability§

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