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A Novel approach for Fault Tolerant Nano Memory Applications

Sprache EnglischEnglisch
Buch Broschur
Buch A Novel approach for Fault Tolerant Nano Memory Applications Chinnala Pavan Kumar
Libristo-Code: 13497762
Verlag LAP Lambert Academic Publishing, November 2015
NANOTECHNOLOGY provides smaller, faster, and lower energy devices which allow more powerful and comp... Vollständige Beschreibung
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NANOTECHNOLOGY provides smaller, faster, and lower energy devices which allow more powerful and compact circuitry; However, these benefits come with a cost-the nanoscale devices may be less reliable. Thermal- and shot-noise estimations alone suggest that the transient fault rate of an individual nanoscale device (e.g., transistor or nanowire) may be orders of magnitude higher than today's devices. A failure is said to have occurred in a circuit or system if it deviates from its specified behavior. A fault on the other hand is physical defect which may or may not cause a failure. The failure rate, also known as the hazard rate and defined as number of failures per unit time compared with the number of surviving components. A fault is characterized by its nature, value, extent & duration.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name A Novel approach for Fault Tolerant Nano Memory Applications
Sprache Englisch
Einband Buch - Broschur
Datum der Veröffentlichung 2016
Anzahl der Seiten 68
EAN 9783659894411
Libristo-Code 13497762
Gewicht 118
Abmessungen 150 x 220 x 4
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